手持(chi)式(shi)光(guang)譜(pu)儀的測量(liang)誤差(cha)來源(yuan)於(yu)哪裏(li)？

　　根據誤差(cha)的性(xing)質及產(chan)生(sheng)原(yuan)因(yin)，誤差(cha)可分為下(xia)面(mian)幾種：

　　1.系(xi)統(tong)誤差(cha)的來(lai)源

　　(1)標樣(yang)和(he)試(shi)樣中的含量(liang)和(he)化(hua)學(xue)組(zu)成不(bu)*相同時，可能引(yin)起(qi)基(ji)體(ti)線(xian)和分(fen)析線(xian)的(de)強度(du)改變(bian)，從而(er)引(yin)入(ru)誤差(cha)。

　　(2)標樣(yang)和試(shi)樣的(de)物理(li)性能(neng)不(bu)*相同時，激發(fa)的特征譜(pu)線(xian)會有(you)差(cha)別從(cong)而(er)產(chan)生(sheng)系(xi)統(tong)誤差(cha)。

　　(3)澆(jiao)註(zhu)狀(zhuang)態(tai)的鋼(gang)樣(yang)與(yu)經(jing)過退火(huo)、淬(cui)火(huo)、回(hui)火(huo)、熱(re)軋、鍛(duan)壓(ya)狀態(tai)的鋼(gang)樣(yang)金(jin)屬(shu)組(zu)織結(jie)構不相同時，測出(chu)的數據會有(you)所差(cha)別。

　　(4)未(wei)知(zhi)元(yuan)素譜(pu)線(xian)的(de)重疊(die)幹擾(rao)。如熔煉過(guo)程(cheng)中加(jia)入脫(tuo)氧(yang)劑、除(chu)硫磷(lin)劑時，混(hun)入未(wei)知(zhi)合(he)金(jin)元(yuan)素(su)而(er)引(yin)入(ru)系(xi)統(tong)誤差(cha)。

　　(5)要消(xiao)除系(xi)統(tong)誤差(cha)，必須嚴(yan)格按(an)照(zhao)標準(zhun)樣品制備(bei)規定要(yao)求。為(wei)了檢(jian)查(zha)系(xi)統(tong)誤差(cha)，就需(xu)要(yao)采用化(hua)學(xue)分(fen)析方(fang)法(fa)分析多(duo)次校(xiao)對(dui)結(jie)果。

　　2.偶然(ran)誤差(cha)的來(lai)源

　　與樣(yang)品(pin)成分(fen)不(bu)均(jun)勻(yun)有關(guan)的(de)誤差(cha)。因(yin)為光(guang)電(dian)光(guang)譜(pu)分(fen)析所(suo)消(xiao)耗的(de)樣品很(hen)少(shao)，樣(yang)品(pin)中元素分布(bu)的(de)不均(jun)勻(yun)性、組(zu)織(zhi)結(jie)構的不(bu)均勻(yun)性，導致不同部位(wei)的(de)分(fen)析結(jie)果不同(tong)而(er)產(chan)生(sheng)偶(ou)然(ran)誤差(cha)。主(zhu)要原因(yin)如下(xia)：

　　(1)熔煉過(guo)程(cheng)中帶入夾雜(za)物，產(chan)生(sheng)的(de)偏(pian)析等(deng)造成樣(yang)品(pin)元(yuan)素(su)分布(bu)不(bu)均。

　　(2)試(shi)樣的(de)缺(que)陷(xian)、氣(qi)孔(kong)、裂紋(wen)、砂(sha)眼等(deng)。

　　(3)磨(mo)樣紋(wen)路交叉、試(shi)樣研(yan)磨(mo)過熱(re)、試(shi)樣磨(mo)面(mian)放置時間(jian)太(tai)長(chang)和(he)壓(ya)上指(zhi)紋(wen)等(deng)因(yin)素。

　　(4)要(yao)減(jian)少(shao)偶(ou)然(ran)誤差(cha)，就要精(jing)心取(qu)樣(yang)，消(xiao)除(chu)試(shi)樣的(de)不(bu)均(jun)勻(yun)性及(ji)試(shi)樣的(de)鑄(zhu)造缺(que)陷，也(ye)可以重(zhong)復(fu)多(duo)次分(fen)析來(lai)降(jiang)低(di)分析誤差(cha)。

　　3.其(qi)他因(yin)素誤差(cha)

　　(1)氬(ya)氣(qi)不(bu)純。當氬(ya)氣(qi)中含有氧(yang)和水(shui)蒸(zheng)氣(qi)時，會使激發(fa)斑點變(bian)壞。如果氬(ya)氣(qi)管(guan)道(dao)與(yu)電(dian)極(ji)架有汙(wu)染(ran)物排不(bu)出(chu)去，分析結(jie)果會變(bian)差(cha)。

　　(2)室(shi)內溫(wen)度的(de)升(sheng)高(gao)會增加(jia)光電(dian)倍(bei)增管(guan)的(de)暗(an)電(dian)流(liu)，降低(di)信噪(zao)比(bi)。濕度大(da)容易(yi)導致高壓(ya)元件(jian)發(fa)生漏(lou)電(dian)、放(fang)電(dian)現(xian)象(xiang)，使分析結(jie)果不穩(wen)定。