易科(ke)泰(tai)樣芯（芯體）掃(sao)描(miao)分析技術

• 高(gao)分辨(bian)率(lv)樣芯（芯體）掃(sao)描(miao)成(cheng)像分析，全面反映二維密(mi)度(du)/質(zhi)地(di)和化(hua)學(xue)成分分布
• 巖(yan)礦樣芯、海洋湖泊沈積(ji)樣芯、樹(shu)木(mu)年輪樣芯等
• RGB 掃(sao)描(miao)成(cheng)像與CT 技(ji)術密(mi)度(du)掃(sao)描(miao)成(cheng)像
• 高(gao)光(guang)譜(pu)掃描成(cheng)像(xiang)分析
• XRF 元素(su)掃描(miao)分析
• 高(gao)通(tong)量、非損(sun)傷
• 可(ke)選(xuan)配(pei)LIBS 元素(su)分析

1、CoreScanner 樣芯密(mi)度(du)與(yu)元素(su)掃描(miao)分析系(xi)統

樣芯CT 掃(sao)描成像、可(ke)見光(guang)（RGB）成(cheng)像、μXRF 元素(su)掃描(miao)分析、磁(ci)化(hua)率(lv)掃(sao)描分析，用(yong)於地(di)質巖(yan)礦樣芯、沈(chen)積(ji)樣芯多(duo)功(gong)能(neng)掃(sao)描(miao)成(cheng)像分析。

2、MultiScanner 年(nian)輪分析系(xi)統——年(nian)輪密度(du) CT與(yu)元素(su)分析

MultiScanner 在(zai)世界(jie)上(shang)*同時采用(yong)了(le)XRF 元素(su)分析技術和X-射線(xian)成(cheng)像技術（CT）， 可(ke)用(yong)於樹(shu)木(mu)、湖海沈(chen)積(ji)物、泥炭等樣品(pin)的(de)密度(du)掃(sao)描(miao)成(cheng)像分析和元素(su)分析，高分辨(bian)率(lv)、高(gao)靈(ling)敏度(du)，可(ke)測(ce)量的(de)元素(su)有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb 等，其(qi)中許(xu)多(duo)可(ke)測(ce)至痕量水平(ping)以(yi)下(xia)，對(dui)靈(ling)敏度(du)和分辨(bian)率(lv)要(yao)求(qiu)較(jiao)高的(de)研究尤其(qi)適(shi)合

3、XRF Scanner 巖(yan)礦樣芯元素(su)掃描(miao)分析系(xi)統

采(cai)用(yong)XRF、數字(zi) X-射線(xian)密(mi)度(du)成(cheng)像(xiang)和高(gao)分辨(bian)率(lv)數字(zi)光(guang)學(xue)成像(xiang)技術，非(fei)破(po)壞性(xing)測(ce)量，獲得(de)樣品(pin)高分辨(bian)率(lv)的(de)數碼圖像，然(ran)後(hou)利(li)用(yong)系(xi)統軟(ruan)件對(dui)所(suo)得(de)圖(tu)像(xiang)和元素(su)信息(xi)進行分析，可(ke)對(dui)樣芯壹次(ci)性(xing)掃(sao)描(miao)分析從 Na 到 U 的(de)所(suo)有元素(su)及 REE（稀(xi)土(tu)元素(su)） 濃度(du)及(ji)分布。

4、SisuCHEMA 高(gao)光(guang)譜(pu)成像分析系(xi)統

包(bao)括推(tui)掃(sao)平(ping)臺(tai)和高(gao)光(guang)譜(pu)成像儀，可(ke)對(dui)各(ge)種材料(liao)包(bao)括巖(yan)礦材料(liao)、沈(chen)積(ji)樣體、植(zhi)物材料(liao)、塑(su)料(liao)等進行高光(guang)譜(pu)成像分析，樣品(pin)大可(ke)達(da) 200x300x45mm，大分辨(bian)率(lv)可(ke)達(da) 30 微(wei)米。

5、SisuSCS 單(dan)樣芯高(gao)光(guang)譜(pu)成像掃(sao)描(miao)分析系(xi)統

可(ke)對(dui)單(dan)個巖(yan)礦樣芯、沈(chen)積(ji)樣芯或(huo)其(qi)它(ta)芯體材(cai)料(liao)進行高光(guang)譜(pu)成像分析（VNIR 可(ke)見光(guang)近(jin)紅(hong)外(wai)波段(duan)或(huo)SWIR 短(duan)波紅(hong)外(wai)波段(duan)），芯體大小(xiao)可(ke)達(da) 130x1500x75mm

6、SisuROCK 多(duo)樣芯高(gao)通量高光(guang)譜(pu)成像掃(sao)描(miao)分析系(xi)統

集(ji)高(gao)分辨(bian)率(lv)可(ke)見光(guang)、VISIR（可(ke)見光(guang)近(jin)紅(hong)外(wai)波段(duan)）、SWIR（短(duan)波紅(hong)外(wai)）、MWIR（中(zhong)波紅(hong)外(wai)）及(ji)LWIR（長波紅(hong)外(wai)）高(gao)光(guang)譜(pu)成像分析技術，高(gao)通(tong)量、非損(sun)傷巖(yan)礦分析工(gong)作(zuo)站(zhan)

7、SpectraScan 高(gao)光(guang)譜(pu)成像掃(sao)描(miao)分析系(xi)統

Specim 高(gao)光(guang)譜(pu)成像技(ji)術、易科(ke)泰(tai)集(ji)成高光(guang)譜(pu)成像自(zi)動推(tui)掃(sao)平(ping)臺(tai)，客戶定制、高性(xing)價(jia)比(bi)， 可(ke)選(xuan)配(pei)RGB 成(cheng)像(xiang)、紅(hong)外(wai)熱(re)成(cheng)像(xiang)、中(zhong)波紅(hong)外(wai)成(cheng)像(xiang)、短(duan)波紅(hong)外(wai)成(cheng)像(xiang)、多(duo)光(guang)譜(pu)成像等，用(yong)於巖(yan)礦芯體分析、年輪分析、植物生化分析、材料(liao)品(pin)質檢測(ce)、食品(pin)檢測(ce)等，可(ke)選(xuan)配(pei)LIBS 元素(su)分析系(xi)統，還可(ke)客戶定制原(yuan)位（in-situ）高(gao)光(guang)譜(pu)掃描分析系(xi)統。

高(gao)光(guang)譜(pu)成像技(ji)術、XRF技(ji)術、LIBS技(ji)術，易科(ke)泰(tai)生態技(ji)術公(gong)司(si)提供(gong)樣芯掃(sao)描成像分析全面解決(jue)方(fang)案！

綜合利(li)用(yong)高光(guang)譜(pu)成像技(ji)術、XRF 樣芯掃(sao)描分析技術、LIBS 技(ji)術應(ying)用(yong)案例(li)（引自(zi)：Isabel Cecilia Contreras Acosta,etc. A Machine Learning Framework for Drill-Core Mineral Mapping Using Hyperspectral and High-resolution Mineralogical Data Fusion. 2019 IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing）