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發布(bu)時間: 2020-08-24 點擊次(ci)數: 1781次(ci)數字(zi)植(zhi)物冠層分(fen)析系統顧名思(si)義(yi)是(shi)測(ce)定(ding)植(zhi)物冠層結構(gou)的儀(yi)器。它(ta)是(shi)根(gen)據(ju)光線穿(chuan)過(guo)介質(zhi)減(jian)弱的比(bi)爾定(ding)律(lv),測(ce)算(suan)植(zhi)物冠層的太(tai)陽(yang)直(zhi)射光透(tou)過(guo)率(lv)、葉(ye)面(mian)積(ji)指(zhi)數(shu)等(deng),采(cai)用半理論(lun)半經驗的公(gong)式,通(tong)過(guo)冠層孔隙(xi)率(lv)的測(ce)定(ding),計算(suan)出(chu)冠層結構(gou)參(can)數。冠層分(fen)析儀采(cai)用的是(shi)對冠層下(xia)天(tian)穹半球(qiu)圖像分(fen)析測量(liang)冠層孔隙(xi)率(lv)的方(fang)法。通(tong)過(guo)處理影(ying)像(xiang)數據(ju)文件(jian)來(lai)獲(huo)取(qu)與(yu)冠層結構(gou)有(you)關(guan)的,例如葉(ye)面(mian)積(ji)指(zhi)數(shu)、光(guang)照(zhao)間隙(xi)及(ji)間(jian)隙分(fen)布(bu)狀況(kuang)。通(tong)過(guo)分(fen)析輻(fu)射數據(ju)的相(xiang)關信息,HemiView能夠(gou)測(ce)算(suan)出(chu)冠層截獲(huo)的PAR以(yi)及(ji)冠層下(xia)方(fang)的輻(fu)射水(shui)平。其(qi)軟件可(ke)以(yi)計算(suan)輻(fu)射指標、冠層指(zhi)標、測量地(di)點的光(guang)線覆蓋(gai)狀況(kuang)及直(zhi)射與(yu)漫(man)射光的分(fen)布(bu)。使(shi)用(yong)180度(du)魚眼(yan)鏡(jing)頭(tou)和(he)高(gao)清(qing)晰(xi)度(du)數碼相機從植(zhi)物冠層下(xia)方(fang)或森(sen)林(lin)地面(mian)向(xiang)上(shang)取像(xiang),再將數碼(ma)相機的高(gao)清(qing)晰(xi)度(du)影像載入HemiView軟件,進(jin)行(xing)分(fen)析處理。數(shu)字(zi)植(zhi)物冠層分(fen)析系統基(ji)本(ben)技(ji)術(shu)指標:1、數碼相(xiang)機zui大分(fen)辨率(lv):8Mpixels;2、魚眼(yan)透(tou)鏡(jing)視(shi)角(jiao):180o;3、512M數(shu)據(ju)存儲(chu)卡數據(ju)容量(liang):20張(zhang)高(gao)清(qing)晰(xi)度(du)圖像或(huo)60張(zhang)標準(zhun)圖像;4、MPD1可(ke)伸(shen)縮(suo)單(dan)臂(bi)支(zhi)架範圍:0.69~1.66m;數字(zi)植(zhi)物冠層分(fen)析系統可用(yong)於農(nong)作(zuo)物、果(guo)樹(shu)、森林(lin)內冠層受(shou)光(guang)狀況(kuang)的測(ce)量和分(fen)析可用(yong)於不(bu)同植(zhi)物群(qun)體結構(gou)的比(bi)較;可(ke)對農(nong)田作(zuo)物群(qun)體生長(chang)過(guo)程(cheng)進(jin)行(xing)動(dong)態(tai)監測適用於生(sheng)態(tai)學野(ye)外(wai)植(zhi)物群(qun)體動態(tai)監測的研究與(yu)教學;也(ye)適用於農(nong)業(ye)、園(yuan)藝、林(lin)業領(ling)域有(you)關(guan)栽培、育種(zhong)、植(zhi)物群(qun)體對比(bi)與(yu)發展的研究與(yu)教學。






