高光(guang)譜(pu)成像(xiang)是基(ji)於(yu)非(fei)常(chang)多窄(zhai)波(bo)段(duan)的影像(xiang)數(shu)據技術

　　所謂(wei)高光(guang)譜(pu)成像(xiang)就(jiu)是在(zai)光(guang)譜(pu)維度(du)上(shang)進(jin)行了(le)細(xi)致(zhi)的分(fen)割(ge)，不僅僅是傳統(tong)所謂(wei)的黑(hei)、白或(huo)者(zhe)R、G、B的區別(bie)，而(er)是在(zai)光(guang)譜(pu)維度(du)上(shang)也(ye)有N個通道，例如(ru)：我們可(ke)以把(ba)400nm-1000nm分(fen)為300個通道。因此(ci)，通過高光(guang)譜(pu)設(she)備(bei)獲(huo)取(qu)到(dao)的是壹(yi)個數(shu)據立方(fang)，不僅有圖(tu)像(xiang)的信息，並(bing)且在(zai)光(guang)譜(pu)維度(du)上(shang)進(jin)行展開(kai)，結(jie)果不僅可以獲(huo)得圖(tu)像(xiang)上(shang)每(mei)個點(dian)的光(guang)譜(pu)數(shu)據，還(hai)可以(yi)獲(huo)得任(ren)壹(yi)個譜(pu)段(duan)的影像(xiang)信息(xi)。

　　高光(guang)譜(pu)成像(xiang)技術(shu)是(shi)基(ji)於(yu)非(fei)常(chang)多窄(zhai)波(bo)段(duan)的影像(xiang)數(shu)據技術，它(ta)將(jiang)成像(xiang)技術(shu)與(yu)光(guang)譜(pu)技術(shu)相結(jie)合，探(tan)測(ce)目(mu)標的二維(wei)幾何空間及壹(yi)維光(guang)譜(pu)信息(xi)，獲(huo)取(qu)高光(guang)譜(pu)分(fen)辨率(lv)的連續、窄(zhai)波(bo)段(duan)的圖像(xiang)數(shu)據。目前高光(guang)譜(pu)成像(xiang)技術(shu)發(fa)展迅(xun)速(su)，常(chang)見(jian)的包(bao)括光(guang)柵(zha)分(fen)光(guang)、聲(sheng)光(guang)可(ke)調諧(xie)濾(lv)波(bo)分(fen)光(guang)、棱(leng)鏡分(fen)光(guang)、芯(xin)片(pian)鍍(du)膜等。

　　隨著高光(guang)譜(pu)成像(xiang)的光(guang)譜(pu)分(fen)辨率(lv)的提高，其(qi)探(tan)測(ce)能(neng)力(li)也(ye)有所(suo)增強。因(yin)此(ci)，與全(quan)色和多(duo)光(guang)譜(pu)成像(xiang)相比較(jiao)，高光(guang)譜(pu)成像(xiang)有以(yi)下顯著優(you)勢(shi)。

　　(1)有著(zhe)近似連(lian)續的地物(wu)光(guang)譜(pu)信息(xi)。高光(guang)譜(pu)影像(xiang)在(zai)經過光(guang)譜(pu)反(fan)射(she)率重(zhong)建(jian)後(hou)，能(neng)獲(huo)取(qu)與(yu)被(bei)探(tan)測(ce)物(wu)近似(si)的連續的光(guang)譜(pu)反(fan)射(she)率曲線(xian)，與(yu)它(ta)的實(shi)測(ce)值相匹配，將(jiang)實(shi)驗室中被(bei)探(tan)測(ce)物(wu)光(guang)譜(pu)分(fen)析模型(xing)應用(yong)到(dao)成像(xiang)過程中。

　　(2)對(dui)於(yu)地(di)表覆蓋的探(tan)測(ce)和識別(bie)能(neng)力(li)提高。高光(guang)譜(pu)數(shu)據能夠(gou)探(tan)測(ce)具(ju)有診(zhen)斷性光(guang)譜(pu)吸(xi)收特(te)征的物(wu)質(zhi)，能準確的區分(fen)地表植被覆(fu)蓋類(lei)型，道路地面的材料等(deng)。

　　(3)地形要素分(fen)類識別(bie)方(fang)法(fa)是(shi)多(duo)種(zhong)多(duo)樣的。影像(xiang)分(fen)類既(ji)可(ke)以采(cai)用(yong)如(ru)貝葉(ye)斯判(pan)別(bie)、決(jue)策樹(shu)、神(shen)經(jing)網(wang)絡(luo)、支(zhi)持(chi)向(xiang)量(liang)機的模式識別(bie)方(fang)法(fa)，也(ye)可以采(cai)用(yong)基(ji)於(yu)被(bei)探(tan)測(ce)物(wu)的光(guang)譜(pu)數(shu)據庫的光(guang)譜(pu)進(jin)行匹(pi)配的方(fang)法(fa)。分(fen)類識別(bie)特(te)征是(shi)既(ji)可(ke)以采(cai)用(yong)光(guang)譜(pu)診斷(duan)特征(zheng)，也(ye)可以采(cai)用(yong)特(te)征(zheng)選擇(ze)與(yu)提(ti)取(qu)。

　　(4)地(di)形(xing)要素的定量(liang)和半定量(liang)分(fen)類識別(bie)將(jiang)成為可能。在(zai)高光(guang)譜(pu)影像(xiang)中能(neng)估計出多(duo)種(zhong)被(bei)探(tan)測(ce)物(wu)的狀態(tai)參(can)量(liang)，大大(da)的提高了(le)成像(xiang)高定(ding)量(liang)分(fen)析的精(jing)度(du)和可(ke)靠(kao)性。