樹木(mu)年代學發(fa)展(zhan)至(zhi)今，已形(xing)成了(le)壹套(tao)比較完(wan)備的基本(ben)理論和(he)分析(xi)方法。森林生(sheng)態(tai)、森(sen)林(lin)火(huo)災(zai)、歷史時(shi)期(qi)氣候、大氣(qi)汙染(ran)、考古、火山(shan)爆(bao)發(fa)、地震(zhen)、洪(hong)水(shui)發(fa)生(sheng)頻(pin)率(lv)等十(shi)幾(ji)個(ge)方面(mian)的研究也發(fa)展(zhan)起來(lai)。為適應不同的研究目的，分析(xi)手(shou)段(duan)多(duo)樣(yang)化，年輪(lun)的寬(kuan)度(du)測(ce)量，密度測(ce)量，元素分析(xi)等(deng)新技(ji)術(shu)和(he)新方法可(ke)以從樹木樣(yang)品(pin)中(zhong)提取(qu)更(geng)多(duo)有(you)用的信(xin)息，使(shi)得(de)相關(guan)領(ling)域研究內(nei)容更(geng)加(jia)豐富。

MultiScanner光密度掃(sao)描成像年輪(lun)分(fen)析(xi)系(xi)統是(shi)壹款的測(ce)量分析(xi)設(she)備(bei)，在(zai)世(shi)界(jie)上*同時(shi)采用了(le)XRF和(he)X-射線成像技(ji)術(shu)，可(ke)用於(yu)木(mu)材、湖海沈(chen)積物(wu)、堆(dui)積(ji)物(wu)、泥(ni)炭等樣(yang)品(pin)的濃(nong)度(du)和(he)元素(su)分析(xi)。可(ke)測(ce)量的元素有(you)Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中(zhong)許(xu)多(duo)可(ke)測(ce)至(zhi)痕量水平以下(xia)，MultiScanner光密度掃(sao)描成像年輪(lun)分(fen)析(xi)系(xi)統對靈敏度(du)和(he)分辨(bian)率(lv)要求較高的研究尤(you)其適合(he)。

原理：

系(xi)統采用X-射線成像和(he)XRF（X-射線熒(ying)光）技(ji)術(shu)，獲(huo)得(de)樣(yang)品(pin)高分辨(bian)率(lv)的數碼圖像。利用X-射線成像技(ji)術(shu)得(de)到(dao)樣(yang)品(pin)的密(mi)度(du)圖像，用於(yu)樣(yang)品(pin)的密度分(fen)析(xi)；采(cai)用XRF技(ji)術(shu)得(de)到(dao)樣(yang)品(pin)多(duo)種(zhong)元素分布(bu)圖像。然後(hou)利用系(xi)統軟件對所得(de)圖像信(xin)息進(jin)行分析(xi)。

系(xi)統特點：

• 結(jie)合(he)了(le)X-射線成像與XRF元素分(fen)析(xi)
• 可(ke)得(de)高精度(du)的樣(yang)品(pin)密度(du)圖像和(he)元素(su)曲線
• 利用XRF分實現(xian)多(duo)種(zhong)元素的分析(xi)
• 可(ke)分(fen)析(xi)不(bu)同類(lei)型、形(xing)狀(zhuang)、尺(chi)寸(cun)和(he)厚度(du)的樣(yang)品(pin)，可(ke)以是(shi)樹木(mu)生(sheng)長(chang)錐(zhui)取(qu)下(xia)的樹木樣(yang)品(pin)，也可(ke)是(shi)片狀(zhuang)、塊(kuai)狀(zhuang)樣(yang)品(pin)或(huo)圓形(xing)沈(chen)積物(wu)樣(yang)品(pin)等，不(bu)需要對樣(yang)品(pin)做(zuo)前期(qi)表(biao)面(mian)處(chu)理，樣(yang)品(pin)準備(bei)簡單(dan)
• 自(zi)動進行多(duo)樣(yang)品(pin)分析(xi)
• X-射線成像的信(xin)息以數字(zi)化(hua)方式(shi)儲(chu)存，結(jie)果(guo)可(ke)即時(shi)顯示。

軟(ruan)件特(te)點：

年輪(lun)元(yuan)素分析(xi)儀(yi)利用數據(ju)分析(xi)軟(ruan)件(jian)對所測(ce)數據(ju)進行分(fen)析(xi)，特(te)點(dian)如(ru)下(xia)：

• 用戶(hu)可(ke)選擇(ze)分析(xi)區(qu)域、分(fen)辨(bian)率(lv)以及掃(sao)描時(shi)間。
• 批(pi)量工作功能支(zhi)持無人(ren)看守(shou)下(xia)的批量測(ce)量
• 可(ke)得(de)多(duo)種(zhong)元素的密度曲線（使(shi)用XRF）
• 簡化(hua)分(fen)析(xi)過(guo)程(cheng)，通(tong)過(guo)參數設置控制(zhi)整(zheng)個(ge)分(fen)析(xi)過(guo)程(cheng)。

系統組成：

X-射線發(fa)生(sheng)器(qi)，標(biao)準(zhun)LFF型X光顯像管，Polyflat^TM 扁平X光束光學系(xi)統，X光束調(tiao)節(jie)器(qi)，控制(zhi)臺(tai)，樣(yang)品(pin)槽，X-射線檢測(ce)器(qi)，密(mi)度校(xiao)準(zhun)塑(su)料楔，操作臺(tai)，平板(ban)掃(sao)描儀，冷卻裝(zhuang)置，計算(suan)機，軟(ruan)件(jian)，用戶(hu)手(shou)冊

技(ji)術(shu)指(zhi)標(biao)：

1）測(ce)量原理：X-射線熒(ying)光分析(xi)和(he)數字(zi)X-射線成像技(ji)術(shu)

2）X 射線發(fa)生(sheng)器(qi)：60 kV，55 mA，zui大(da)功率(lv)3.3 kW

3）顯像管：壹個標(biao)準(zhun)的LFF型(xing)X光顯像管（Cr）。zui大功率(lv)工作壽(shou)命(ming)2000h，功(gong)率(lv)降(jiang)低(di)壽(shou)命(ming)延(yan)長(chang)。當使(shi)用鉻(ge)管進(jin)行木材密度(du)分析(xi)時(shi)，樣(yang)品(pin)厚度(du)範圍為1~10mm，厚度(du)較厚的樣(yang)品(pin)(zui厚50 mm )，通(tong)常選擇(ze)Mo管，這需要另壹(yi)種(zhong)類(lei)型的X-射線成像感應器(qi)。

4）光學系(xi)統：Polyflat^TM 技(ji)術(shu)，Polyflat^TM 扁(bian)平X光束光學系(xi)統，用於(yu)局(ju)部區(qu)域的快(kuai)速(su)測(ce)量，測(ce)量點面積為50微米(mi)×20厘米(mi)， X-射線圖像的分辨率(lv)達10x20微米(mi)，寬(kuan)15~20mm（根據(ju)軟件設(she)置），通(tong)過(guo)軟(ruan)件組合(he)片段圖片可(ke)得(de)到(dao)寬(kuan)度(du)大(da)於20mm的圖像。使(shi)用這(zhe)種(zhong)光束的XRF，水(shui)平(ping)方向(xiang)的分辨率(lv)為50微米(mi)，垂(chui)直(zhi)方向(xiang)的分辨率(lv)為2mm。

5）X光束調(tiao)節(jie)器(qi)：X光束調(tiao)節(jie)器(qi)可(ke)使(shi)X-射線圖像在水(shui)平(ping)方向(xiang)的分辨率(lv)達10微米(mi)

6）控制(zhi)臺(tai)：壹個(ge)300x200mm X/Y可(ke)移動電腦(nao)控制(zhi)臺(tai)，掃(sao)描點長(chang)2.5微米(mi)，重現(xian)性(xing)好

7）樣(yang)品(pin)槽：zui多(duo)放(fang)9個長(chang)280mm，寬(kuan)7~12mm的木條樣(yang)品(pin)。樣(yang)品(pin)槽可(ke)拿(na)出。其他類(lei)型的樣(yang)品(pin)槽根據(ju)需要可(ke)訂(ding)購。

8）X-射線檢測(ce)器(qi)：線性(xing)排(pai)列感(gan)應元件(jian)，其測(ce)量所得(de)圖像的格(ge)式(shi)為16 bits。包含(han)控制(zhi)、操作及數據(ju)采集(ji)所需的硬件和(he)軟件(jian)。適於厚度(du)不超(chao)過(guo)15mm木材類(lei)樣(yang)品(pin)的測(ce)量。

9）密度校(xiao)準(zhun)塑(su)料楔：用於(yu)密(mi)度校(xiao)準(zhun)，位(wei)於樣(yang)品(pin)固(gu)定槽上方。

10）操作臺(tai)：780×800×1600mm（長(chang)×寬(kuan)×高），用於(yu)放(fang)置上面(mian)提到(dao)的所有原件。測(ce)量區(qu)用壹(yi)塊(kuai)透明板遮(zhe)擋(dang)，用於(yu)防(fang)塵，防(fang)X-射線泄(xie)露。操作臺(tai)內置安全控制(zhi)系(xi)統，打開(kai)瞬間(jian)，X-射線會(hui)自(zi)動(dong)關(guan)閉。

11）掃(sao)描儀：壹個平板掃(sao)描儀，用於(yu)測(ce)量前，條形(xing)樣(yang)品(pin)槽內樣(yang)品(pin)的掃(sao)描。

12）冷卻裝(zhuang)置：冷卻水泵

13）電源(yuan)：建議(yi)配置UPS

14）重量：250kg

應用案(an)例(li)：

賽馬(ma)環境科(ke)學中(zhong)心應用年輪(lun)元(yuan)素分析(xi)儀(yi)進(jin)行(xing)歐(ou)洲(zhou)赤(chi)松密(mi)度的研究。

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