SpectraScan高光譜(pu)成像分析(xi)系統(tong)-北(bei)京易(yi)科泰(tai)生(sheng)態(tai)技術(shu)有限公(gong)司

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SpectraScan高光譜(pu)成像分析(xi)系統(tong)

更(geng)新時(shi)間：2025-07-01

訪問(wen)次數(shu)：3204

SpectraScan高光譜(pu)成像分析(xi)系統(tong)基於Specim推(tui)掃(sao)式高光譜(pu)成像分析(xi)技術(shu)，由高光譜(pu)成像儀(yi)、自(zi)動(dong)掃描(miao)臺架和(he)數(shu)據采(cai)集(ji)處(chu)理(li)軟(ruan)件組(zu)成，用於植(zhi)物表(biao)型(xing)分(fen)析(xi)、植(zhi)物生(sheng)理(li)生(sheng)態(tai)學(xue)研究、遺(yi)傳(chuan)育(yu)種(zhong)、種(zhong)子質(zhi)量(liang)檢(jian)測(ce)、中(zhong)草藥(yao)鑒(jian)定(ding)、食品(pin)檢(jian)測(ce)、動(dong)物表(biao)型分(fen)析(xi)等領(ling)域。

產(chan)品(pin)介(jie)紹

品牌	SPECIM/芬(fen)蘭(lan)	成(cheng)像(xiang)方(fang)式(shi)	二(er)元(yuan)光學(xue)元件
價(jia)格區間	面議(yi)	使用狀(zhuang)態(tai)	機載(zai)/地(di)面(mian)均(jun)可
工(gong)作(zuo)原理(li)	推(tui)掃型

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常用高光譜(pu)成像儀(yi)選(xuan)型(xing)：

	IQ	FX10	PFD4k	sCMOS	FX17(nm)	SWIR(nm)
波(bo)段範圍(wei)	400-1000nm				950-1700	1000-2500
光譜(pu)分辨率(FWHM)	7nm	5.5nm	3.0nm	2.9nm	8nm	12nm
波(bo)段	204	224	768	946	224	288
空間分辨(bian)率(lv)（像(xiang)素）	512	1024	1775	2184	640	384
光圈(quan)	F/1.7	F/1.7	F/2.4	F/2.4	F/1.7	F/2.0
信噪(zao)比(bi)	>400:1	600:1			1000:1	1050:1
幀頻(fps)		330	100	100	670	450
重(zhong)量(liang)	1.3kg	1.26kg	2.7kg	>2.0kg	1.56kg	>14kg

可根(gen)據需要(yao)選(xuan)配(pei)其它技(ji)術(shu)指(zhi)標(biao)高光譜(pu)如MWIR和LWIR等

可選(xuan)配(pei)紅外熱成像

可選(xuan)配(pei)太陽(yang)輻(fu)射誘(you)導(dao)高光譜(pu)葉綠(lv)素熒光成(cheng)像

留(liu)言框(kuang)

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下(xia)壹(yi)篇(pian)：SisuSCS高光譜(pu)單(dan)樣芯(xin)掃描(miao)平(ping)臺

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