• 用途：

        SpectraScan-R根系(xi)光譜(pu)掃(sao)描成像分析系(xi)統(tong)是(shi)壹(yi)套(tao)於(yu)離體（ex-situ）根系(xi)VIS-NIR波段光譜(pu)掃(sao)描成像分析的(de)儀(yi)器系(xi)統(tong)，完整(zheng)植(zhi)物(wu)根(gen)系(xi)取土(tu)後可直(zhi)接(jie)進行可(ke)見光近紅(hong)外(wai)高(gao)光譜(pu)掃(sao)描成像分析，還(hai)可以進壹(yi)步經(jing)過洗(xi)根(gen)後掃描成像然(ran)後通過專(zhuan)業軟(ruan)件進行根系(xi)分析，可(ke)以分析根(gen)系(xi)長(chang)度、直徑(jing)、面積、體積、根(gen)尖(jian)記(ji)數等(deng)，還可以分析新(xin)生(sheng)根(gen)系(xi)、根(gen)系(xi)水(shui)分分布(bu)、根系(xi)生(sheng)化結(jie)構(gou)二(er)維時(shi)空分布(bu)成像等(deng)，甚至可以通過高(gao)光譜(pu)技(ji)術(shu)二(er)維成像分析根(gen)系(xi)土(tu)壤(rang)基質(zhi)有機碳、水(shui)分含量等(deng)時(shi)空動態(tai)變(bian)化。功(gong)能(neng)強大，操作簡單，軟(ruan)件(jian)可分析植(zhi)物(wu)根(gen)系(xi)的(de)形(xing)態(tai)，色(se)彩、分級伸展(zhan)分析及根系(xi)的(de)整(zheng)體結構(gou)分布(bu)等(deng)等(deng)。可廣泛應用於(yu)植(zhi)物(wu)根(gen)系(xi)動(dong)態(tai)、植(zhi)物(wu)表型(xing)分析、植(zhi)物(wu)脅迫、土(tu)壤(rang)生(sheng)態(tai)修(xiu)復(fu)、濕地監測等(deng)領(ling)域。

• 原理(li)：

        SpectraScan-R根系(xi)光譜(pu)掃(sao)描成像分析系(xi)統(tong)利用高(gao)質(zhi)量RGB圖形(xing)掃描儀及高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)系(xi)統(tong)，獲取高(gao)分辨率(lv)植(zhi)物(wu)根(gen)系(xi)可(ke)見光圖像及高(gao)分辨率(lv)光譜(pu)數據(ju)，然(ran)後通過專(zhuan)業分析軟(ruan)件對根系(xi)形(xing)態(tai)結(jie)構(gou)、光譜(pu)特(te)征(zheng)、生(sheng)化組(zu)成(cheng)等(deng)進行分析。掃(sao)描儀在(zai)掃(sao)描面板下方(fang)和(he)上(shang)蓋中(zhong)安裝(zhuang)有(you)專(zhuan)門的(de)雙(shuang)光源(yuan)照明系(xi)統(tong)，並且(qie)在(zai)掃(sao)面(mian)板(ban)上(shang)預留(liu)了雙光源(yuan)校(xiao)準(zhun)區域。掃描時(shi)，掃面板下的(de)光源(yuan)和(he)上(shang)蓋板(ban)中的(de)光源(yuan)同(tong)時(shi)掃過高(gao)透(tou)明(ming)度根盤中的(de)根(gen)系(xi)樣(yang)品，這樣(yang)可(ke)以避(bi)免根(gen)系(xi)掃(sao)描時(shi)容(rong)易(yi)產(chan)生(sheng)的(de)陰(yin)影和(he)不均勻等(deng)現象的(de)影響，有效(xiao)地保(bao)證(zheng)了獲取的(de)圖像質量。

        WinRHIZO軟件(jian)可(ke)以讀取TIFF，JPEG標準(zhun)格式的(de)圖像。針對獲取的(de)圖像，利用插(cha)入(ru)加密鑰(yao)匙解密的(de)軟(ruan)件，同(tong)時(shi)配合(he)廠(chang)家(jia)針(zhen)對掃描儀配置(zhi)的(de)Scanner.cal校(xiao)準(zhun)文件，對掃描獲得的(de)高(gao)質(zhi)量根(gen)系(xi)圖像進行分析。采(cai)用非(fei)統(tong)計學(xue)方(fang)法測量計(ji)算(suan)出(chu)交叉(cha)重疊部分根系(xi)長(chang)度、直徑(jing)、面積、體積、根(gen)尖(jian)等(deng)基本的(de)形(xing)態(tai)學(xue)參數；利(li)用軟件(jian)的(de)色(se)彩等(deng)級分析功(gong)能、高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)分析，還(hai)可以對根系(xi)RGB、近紅(hong)外(wai)光譜(pu)進(jin)行(xing)分析，從而進行根系(xi)存(cun)活數量、水(shui)分、根系(xi)生(sheng)長(chang)和(he)營養(yang)狀況、土(tu)壤(rang)基質(zhi)等(deng)方(fang)面進行分析研(yan)究；利用軟件(jian)的(de)高(gao)級(ji)分析功(gong)能，還可以對完整(zheng)的(de)植(zhi)物(wu)根(gen)系(xi)圖像進行根(gen)系(xi)連(lian)接分析（研(yan)究根系(xi)分支角(jiao)度、連(lian)通性(xing)等(deng)形(xing)態(tai)特(te)征(zheng)）、根系(xi)拓(tuo)撲分析（研(yan)究根系(xi)連(lian)接數量、路(lu)徑(jing)長度(du)）和(he)根系(xi)分級伸展(zhan)分析（記(ji)錄根系(xi)整(zheng)體等(deng)級分布(bu)情況）。從而滿(man)足研究(jiu)者(zhe)針(zhen)對植(zhi)物(wu)根(gen)系(xi)不(bu)同(tong)類(lei)別(bie)和(he)層次(ci)的(de)研(yan)究。

• 組成(cheng)：

• 圖像撲捉(zhuo)系(xi)統(tong)：經(jing)過廠(chang)家(jia)調(tiao)試的(de)標(biao)準根系(xi)掃(sao)描設備(bei)，匹配(pei)專(zhuan)門的(de)光源(yuan)、具(ju)有(you)長(chang)久(jiu)校(xiao)正特點、根系(xi)固(gu)定裝(zhuang)置(zhi)等(deng)
• 高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)分析單元(yuan)，對根系(xi)及土(tu)壤(rang)基質(zhi)進行(xing)高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)
• 根系(xi)分析系(xi)統(tong)：基本版 /標準(zhun)版 /專(zhuan)業版WinRHIZO分析軟(ruan)件
• 電(dian)腦(nao)（低(di)配(pei)置(zhi)：Pentium III / 64 MB內(nei)存 / 17"顯示器(qi)）用戶(hu)自(zi)備(bei)

光譜(pu)掃(sao)描設備(bei)類(lei)型(xing)及區別(bie)見下表：

**WinRhizo Pro版本包括藍色(se)背景板(ban)

• 基本技術(shu)指(zhi)標：

1、不同(tong)版本WinRhizo主要技(ji)術(shu)指(zhi)標：

* 擬南(nan)芥(jie)版具(ju)有(you)專(zhuan)業版所有(you)功(gong)能，另外(wai)還(hai)可(ke)針(zhen)對擬南(nan)芥(jie)類(lei)植(zhi)物(wu)的(de)細小(xiao)、交叉(cha)根系(xi)進(jin)行測量

2、VIS-NIR光譜(pu)掃(sao)描成像分析：

• 高(gao)光譜(pu)掃(sao)描成像分析波段：400-1000nm（標配(pei)），可(ke)選(xuan)配(pei)900-1700nm或(huo)1000-2500nm短波紅(hong)外(wai)波段
• 智能(neng)壹(yi)體式高(gao)光譜(pu)掃(sao)描成像技術(shu)（標(biao)配），內(nei)置(zhi)自(zi)動(dong)推(tui)掃(sao)系(xi)統(tong)、取景器(qi)相(xiang)機等(deng)，高(gao)度(du)便攜(xie)，集光譜(pu)成(cheng)像(xiang)數據(ju)采(cai)集、可(ke)視(shi)化數據(ju)處理(li)、觸摸屏(ping)與控制鍵(jian)等(deng)於(yu)壹(yi)體，采(cai)用圖形(xing)用戶(hu)界面(mian)（GUI）
• 高(gao)光譜(pu)分析軟(ruan)件采(cai)用SAM算(suan)法(fa)及Savitzky-Golay濾波器(qi)技(ji)術(shu)，可(ke)創建(jian)類(lei)別(bie)或(huo)分級模(mo)型(xing)並建(jian)立App直(zhi)接導入高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)儀使(shi)用，建(jian)議同(tong)時(shi)選(xuan)配(pei)ENVI軟(ruan)件(jian)
• 取景器(qi)相(xiang)機分辨率(lv)5Mpix，高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)空間(jian)分辨率(lv)512x512（標配(pei)），可(ke)選(xuan)配(pei)1024x或(huo)其它分辨率(lv)高(gao)光譜(pu)成(cheng)像(xiang)分析
• 4.3”觸摸屏(ping)、13操作鍵（標(biao)配(pei)）
• 光譜(pu)分辨率(lv)7nm（標(biao)配(pei)），波段數204（標配(pei)）
• 標配(pei)視(shi)野31度，成(cheng)像(xiang)距(ju)離15cm至無窮(qiong)遠(yuan)，1m距(ju)離成像(xiang)視(shi)野55x55cm
• 具(ju)備(bei)默(mo)認(ren)模(mo)式(shi)、自(zi)動(dong)篩(shai)選(xuan)模(mo)式(shi)、客戶(hu)定義APP模(mo)式(shi)及自(zi)動(dong)時(shi)間間隔記錄模(mo)式(shi)
• 根系(xi)RGB顏(yan)色(se)分析（專(zhuan)業版RGB掃描分析軟(ruan)件）：根的(de)長(chang)度、面積、體積、根(gen)尖(jian)計(ji)數、根(gen)系(xi)存(cun)活數量等(deng)研究（對根系(xi)或(huo)者(zhe)根(gen)系(xi)附(fu)著(zhe)菌(jun)種顏(yan)色(se)進行(xing)分類(lei)，如(ru)健康(kang)根、淺(qian)程度(du)受(shou)害(hai)根、重程(cheng)度受(shou)害(hai)根等(deng)，軟件可(ke)計算(suan)每種顏(yan)色(se)根系(xi)的(de)總長(chang)、總表面(mian)積、總體積、總根(gen)尖(jian)數量；每種顏(yan)色(se)根系(xi)的(de)平(ping)均長(chang)度、平(ping)均表面(mian)積、平(ping)均直(zhi)徑(jing)等(deng)）
• 根系(xi)連(lian)接（link）分析（專(zhuan)業版RGB掃描分析軟(ruan)件）：用於(yu)根系(xi)分支角(jiao)度、連(lian)通性(xing)等(deng)形(xing)態(tai)研(yan)究(jiu)（與拓(tuo)撲和(he)發育分析大的(de)區別(bie)是(shi)，link分析可(ke)以針對非(fei)完(wan)整(zheng)根(gen)系(xi)！軟(ruan)件給(gei)出(chu)的(de)結(jie)果有分析對象的(de)根(gen)系(xi)平(ping)均直(zhi)徑(jing)、平均長(chang)度、平(ping)均表面(mian)積、每個分叉角(jiao)度的(de)平(ping)均值(zhi)；分叉的(de)總數量；每個分叉的(de)長(chang)度、表面(mian)積、平(ping)均直(zhi)徑(jing)、角度(du)、級(ji)別(bie)等(deng)）
• 根系(xi)拓(tuo)撲（Topology）分析（專(zhuan)業版RGB掃描分析軟(ruan)件）：連(lian)接數量、路(lu)徑(jing)長度(du)等(deng)研究（需(xu)要根(gen)系(xi)完(wan)整）（必(bi)須是(shi)要(yao)完(wan)整的(de)根(gen)系(xi)掃(sao)描圖像。軟件可(ke)計(ji)算(suan)主(zhu)根的(de)長(chang)度、所有次(ci)級(ji)根(gen)的(de)總長(chang)度(du)、平均長(chang)度、平(ping)均直(zhi)徑(jing)、平均表面(mian)積；每壹(yi)級(ji)分叉的(de)下級總分叉數量；每壹(yi)級(ji)分叉的(de)總數量等(deng)）
• 根系(xi)發育（Development）分析：記(ji)錄根系(xi)整(zheng)體等(deng)級分布(bu)情況（可通過專(zhuan)業版分析軟(ruan)件需要要(yao)完整的(de)根(gen)系(xi)掃(sao)描圖像。軟件可(ke)計(ji)算(suan)每壹(yi)個(ge)分級根(gen)系(xi)總長(chang)、總表面(mian)積，平(ping)均長(chang)度、平(ping)均直(zhi)徑(jing)、平均表面(mian)積等(deng)）

• 產(chan)地(di)：客戶(hu)定制集成(cheng)技(ji)術(shu)