芬蘭時間(jian)4月1日(ri)上(shang)午9點（北(bei)京時(shi)間(jian)4月1日(ri)下(xia)午(wu)15點），Specim正(zheng)式(shi)發布適(shi)用(yong)於(yu)工(gong)業機器視覺(jiao)領(ling)域(yu)的(de)中波紅(hong)外高(gao)光譜(pu)成(cheng)像儀——Specim FX50中波紅(hong)外高(gao)光譜(pu)成(cheng)像儀。

Specim FX50中(zhong)波紅(hong)外高(gao)光譜(pu)成(cheng)像儀大(da)的(de)特點是(shi)，選用(yong)中波(bo)紅(hong)外（MWIR）區(qu)域(yu)，可(ke)用(yong)於(yu)識(shi)別(bie)和分類難處(chu)理(li)的(de)黑色(se)塑料(liao)，分析(xi)碳(tan)氫化(hua)合物(wu)和礦(kuang)物(wu)，快速(su)、可(ke)靠(kao)地(di)檢測金屬表(biao)面(mian)的(de)汙染(ran)，提(ti)高(gao)準確(que)性(xing)，降低成(cheng)本(ben)。因(yin)此壹(yi)經問(wen)世，便(bian)以高(gao)速(su)、精確(que)、高(gao)效(xiao)的(de)特點，引(yin)起了(le)廣泛關註(zhu)。

l 優勢

Ø 市(shi)場上(shang)超緊(jin)湊(cou)和堅固的(de)MWIR高(gao)光譜(pu)相(xiang)機

Ø 對(dui)黑色(se)材料(liao)進(jin)行(xing)分類識(shi)別(bie)的(de)可(ke)靠(kao)方法

Ø 也(ye)可(ke)識(shi)別(bie)黑色(se)ABS塑料(liao)，因(yin)為(wei)它(ta)的(de)光譜區(qu)域(yu)可(ke)以延伸(shen)到5300 nm

Ø 為(wei)油氣(qi)和礦(kuang)探(tan)生產(chan)過程中分析(xi)暗色(se)樣品中礦(kuang)物(wu)和碳氫化(hua)合物(wu)提供(gong)了(le)新(xin)的(de)技術(shu)手(shou)段(duan)

Ø 由於(yu)其在(zai)MWIR範圍(wei)的(de)強光譜特征，能夠(gou)檢測低濃度(du)雜質(zhi)

l 靈(ling)活性(xing)

相(xiang)機覆(fu)蓋範圍(wei)內150個(ge)波(bo)段可(ke)自由選擇(ze)

三種(zhong)鏡頭(tou)可(ke)供(gong)選擇(ze)，以滿(man)足(zu)不同帶寬需求(qiu)

l 快速(su)的(de)光學設(she)計

高(gao)靈敏(min)度(du)：能夠(gou)在(zai)較短(duan)積分時(shi)間(jian)內提供(gong)良好(hao)的(de)信號

l 集(ji)成(cheng)方案(an)

Ø 易於(yu)集成(cheng)和更新(xin)現(xian)有(you)系(xi)統(tong)（GigE接口(kou)）

Ø 兼容(rong)商(shang)業機器視覺(jiao)軟(ruan)件工(gong)具(ju)

Ø 可(ke)用(yong)Specim SDK和ASCII控制(zhi)協(xie)議集(ji)成(cheng)到現(xian)有(you)軟(ruan)件(jian)解(jie)決(jue)方案(an)中(zhong)

Ø 可(ke)用(yong)MWIR光(guang)源(yuan)