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SunScan 植(zhi)物(wu)冠(guan)層(ceng)分(fen)析系統(tong)
更(geng)新時(shi)間(jian)：2025-07-16
訪(fang)問次數(shu)：3177
SunScan 冠層(ceng)分(fen)析系統(tong)（SS1）是(shi)壹(yi)款(kuan)便(bian)攜式(shi)作物(wu)冠(guan)層(ceng)分(fen)析系統(tong)，通(tong)過(guo)測(ce)量作物(wu)冠(guan)層(ceng)內的光合(he)有效輻射（PAR），提(ti)供(gong)葉(ye)面(mian)積指數(shu)（LAI）和生(sheng)物(wu)量生(sheng)產等重(zhong)要信(xin)息(xi)。系統(tong)可(ke)在多(duo)種光照(zhao)條件下使用(yong)，能(neng)實(shi)現(xian)瞬時(shi)LAI計(ji)算(suan)、測量PAR截(jie)留等(deng)功(gong)能。
| 品(pin)牌 | 其他品(pin)牌 | 產地類(lei)別(bie) | 進(jin)口 |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用(yong)領(ling)域 | 環(huan)保(bao),食(shi)品(pin)/農(nong)產(chan)品(pin),農(nong)林牧漁,綜合(he) |
SunScan 冠(guan)層(ceng)分(fen)析系統(tong)（SS1）是(shi)壹(yi)款(kuan)便(bian)攜式(shi)作物(wu)冠(guan)層(ceng)分(fen)析系統(tong)，通(tong)過(guo)測(ce)量作物(wu)冠(guan)層(ceng)內的光合(he)有效輻射（PAR），提(ti)供葉(ye)面(mian)積指數(shu)（LAI）和生(sheng)物(wu)量生(sheng)產等重(zhong)要信(xin)息(xi)。系統(tong)可(ke)在多(duo)種光照(zhao)條件下使用(yong)，能(neng)實(shi)現(xian)瞬時(shi)LAI計(ji)算(suan)、測量PAR截(jie)留等功(gong)能。
主要特點
l 測(ce)量植(zhi)物(wu)冠(guan)層(ceng)內的入(ru)射和透(tou)射光合(he)有效輻射（PAR）
l 直接(jie)顯(xian)示葉(ye)面(mian)積指數(shu)（LAI）
l BF5 傳(chuan)感器，可測(ce)量入(ru)射光的(de)直射和漫(man)射比率(lv)
l 適(shi)用於陰天、晴(qing)天和多(duo)變(bian)的(de)天氣(qi)條件
l 便(bian)攜式(shi)設(she)計(ji)
l 適(shi)用於作物(wu)研究(jiu)等，尤(you)其適合低矮農(nong)作物(wu)冠(guan)層(ceng)
系(xi)統(tong)組(zu)成(cheng)
包(bao)括(kuo) SunScan探(tan)頭(tou)、BF5漫(man)反射(she)傳(chuan)感器、耐(nai)用(yong)型PDA及(ji)SunData軟件等。
系(xi)統(tong)類(lei)型(xing)及特點
SunScan 為(wei)模塊化設計,研究(jiu)人(ren)員(yuan)可以(yi)根(gen)據(ju)自(zi)己(ji)的(de)性能(neng)要求和預(yu)算(suan)選(xuan)擇(ze)合適(shi)的(de)系(xi)統(tong)：
系(xi)統(tong)類(lei)型(xing) | 特(te)點和優(you)勢 |
SS1-COM有線完整(zheng)系統(tong) | 包(bao)含(han) SunScan 探(tan)頭(tou)、SunData 軟件、PDA、BF5傳(chuan)感器（有線傳輸(shu)）、三(san)腳(jiao)架(jia)和便(bian)攜箱，是(shi)功(gong)能強(qiang)大的冠層(ceng)分(fen)析工具(ju)，可即時(shi)計(ji)算(suan) LAI，使(shi)用點讀數(shu)或無(wu)人(ren)值(zhi)守(shou)記錄(lu)測(ce)量 PAR 截(jie)留，測量光斑(ban) |
SS1-COM-R4無(wu)線(xian)完(wan)整(zheng)系統(tong) | 在SS1-COM完(wan)整(zheng)系統(tong)的(de)基礎(chu)上，BF5變(bian)為(wei)無(wu)線(xian)傳(chuan)輸(shu)，範圍(wei)100到(dao)200米(mi)，因此在較高(gao)冠層(ceng)或(huo)多(duo)點分(fen)布測量時(shi)非常(chang)有用 |
SS1-STD3 標(biao)準(zhun)系統(tong) | 包(bao)含(han)SunScan 探(tan)頭(tou)、SunData 軟件和 PDA，該(gai)標(biao)準(zhun)系統(tong)能(neng)夠進行(xing)全(quan)範(fan)圍(wei)的 SunScan 測(ce)量，包(bao)括(kuo) LAI，探(tan)頭(tou)必(bi)須(xu)作為自(zi)身的冠(guan)層(ceng)上方參考(kao)，因此(ci)需要穩定(ding)的(de)光照(zhao)條件下使用(yong) |
產(chan)地
英(ying)國
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